Раньше считалось, что EPQ происходит в основном в объёме эмиссионного слоя, но недавние исследования показали, что значительное гашение может происходить на границе со смежными слоями устройства. Чтобы изолировать этот канал потери энергии, исследователи разработали серию двухслойных устройств, которые позволили определить три физических фактора, которые управляют интерфейсным EPQ в любом OLED-устройстве.

Они обнаружили, что доминирующим фактором является влияние энергетических барьеров, испытываемых электронами и дырками на интерфейсах: барьер выше примерно 0,2 эВ приводит к большему интерфейсному EPQ, что вызывает значительное падение эффективности излучения.

«Мы обнаружили, что энергетические барьеры на интерфейсах играют решающую роль в интерфейсном EPQ. Это открытие позволило нам разработать OLED-устройства, которые минимизируют потери от интерфейсного EPQ, что привело к повышению эффективности и срока службы устройства», — рассказал Джесан Ли из Сеульского национального университета.

Исследователи спроектировали OLED-устройства так, чтобы минимизировать потери от интерфейсного EPQ, что привело к повышению эффективности для красных, зелёных и синих OLED на 70%, 47% и 66% соответственно. Снижение потерь также увеличило срок службы синих OLED-устройств на 67%, что стало значимым результатом для создания долговечных полноцветных дисплеев.